Mikroskopie

Analyse von Werkstoffen durch Mikroskopie

Die Eigenschaften von Werkstoffen sind stark mit ihrer Mikrostruktur korreliert, so dass zur systematischen Untersuchung und Weiterentwicklung von Werkstoffen eine hochaufgelöste Analyse des Gefüges notwendig ist. Neben bildgebender Licht- und Elektronenmikroskopie besteht eine Kernkompetenz in der Fraunhofer-Projektgruppe IWKS in der elementaufgelösten Mikro- und Nanostrukturanalyse. Sowohl am Elektronenmikroskop als auch am Ionen-Feinstrahl-Mikroskop (FIB) kann die Zusammensetzung durch vielfältige Detektionssysteme ortsaufgelöst erfasst werden. Durch die Kombination von einem Rasterelektronenmikroskop mit einem fokusierten Ionenstrahl sind nicht nur Querschnitte durch Materialien möglich, um z. B. Schichtstrukturen hochaufgelöst abzubilden, sondern auch eine tomographische 3D Strukturanalysen. Zur atomar-aufgelösten Strukturanalyse ist eine 3D-Atomsonde installiert, die höchste Präzision sowohl bezüglich des räumlichen Aufbaus und der Detektionsempfindlichkeit aufweist.

3D Atomsonden-tomographie (3D-APT)

Ionen-Feinstrahl-Mikroskopie (FIB)

Lichtmikroskopie

Rasterelektronen-mikroskopie (REM)