Analytik

Beugungsmethoden / Strukturanalyse

Röntgendiffraktometrie (XRD)

Analyt:         

  • anorganische Materialien, Werkstoffe, Komposite
  • Probengeometrie: pulverförmige Proben, kompakte Proben, dünne Schichten, usw.
  • benötigte Probenmenge: wenige mg

 

Zielgrößen/Anwendungen:

  • Phasenidentifikation
  • Phasenquantifizierung
  • Strukturbestimmung und –verfeinerung
  • Bestimmung des Kristallinitätsgrades und der Kristallitgrößen
  • quantitative Bestimmung des amorphen Anteils
  • Charakterisierung sauerstoff-/feuchtigkeitsempfindlicher Materialien                                 

 

Technische Ausstattung: Empyrean (Fa. PANalytical)

  • Wellenlänge: Co-Kα1; λ = 0,176 nm
  • Betrieb: Reflexion oder Transmission
  • Röntgenoptiken für divergente und parallele Strahlgeometrie sowie Punktfokus für mikro-Diffraktion
  • Probensampler: max. 45 Proben
  • x, y, z-Tisch für kompakte Proben (max. 95 x 95 x 500 mm³, max. 2 kg)