Analytik

Beugungsmethoden / Strukturanalyse

Hochtemperatur-Röntgendiffraktometrie (HT-XRD)

Analyt:         

  • anorganische Materialien, Werkstoffe, Komposite
  • Probengeometrie: pulverförmige Proben, kompakte Proben, dünne Schichten usw.
  • benötigte Probenmenge: wenige mg

 

Zielgrößen/Anwendungen:

  • zeit-/temperaturabhängige Strukturumwandlungen
  • in-situ Untersuchungen von Feststoff-Feststoff Reaktionen oder Gas-Feststoff Reaktionen
  • simultane Untersuchungen struktureller und katalytischer Parameter von Katalysatoren
  • Charakterisierung sauerstoff-/feuchtigkeitsempfindlicher Materialien
  • kinetische Untersuchungen von Festkörperreaktionen
  • Untersuchungen von temperaturabhängigen Alterungsprozessen unter Reaktionsbedingungen (z. B. für Katalysatoren)

 

Technische Ausstattung:    

Röntgendiffraktometer: Empyrean (Fa. PANalytical)

  • Wellenlänge: Co-Kα1; λ = 0,176 nm

Hochtemperaturkammer: HTK-2000N (Fa. Anton Paar)

  • Betrieb:
    Luft (Pt-Heizband) - Raumtemperatur bis 1600 °C (kurze Laufzeit)
    Luft (Pt-Heizband) - Raumtemperatur bis 1450 °C (Dauerbetrieb)
    Luft (Ta-Heizband) - Raumtemperatur bis 400 °C
    Vakuum (W-Heizband) - Raumtemperatur bis 2300 °C
    Vakuum (Pt-Heizband) - Raumtemperatur bis 1600 °C
    Vakuum (Ta-Heizband) - Raumtemperatur bis 1500 °C

Reaktionskammer: XRK-900 (Fa. Anton Paar)

  • Betrieb:
    Luft/Schutzgas/Vakuum - Raumtemperatur bis 900 °C
    Reaktionsgase - Raumtemperatur bis 900 °C (max. 10 bar)
  • offene (Gasdurchfluss) und geschlossene (Vakuum) Probenhalter:
    Glaskeramik – Raumtemperatur bis 900 °C
    Inconel – Raumtemperatur bis 900 °C
    Edelstahl – Raumtemperatur bis 600 °C